бесконтактный метод измерения

См. также в других словарях:

• бесконтактный метод измерений — бесконтактный метод Метод измерений, основанный на том, что чувствительный элемент средства измерений не приводится в контакт с объектом измерения. Примеры 1. Измерение температуры в доменной печи пирометром. 2. Измерение расстояния до объекта… …   Справочник технического переводчика

• Шарвин, Юрий Васильевич — (р. 24.VI.1919) советский физик экспериментатор, чл. кор. АН СССР (1970). Р. в Москве. Окончил Московский ун т (1941). В 1941 43 работал в Физико химическом ин те им. Л. Я. Карпова. С 1943 в Ин те физических проблем АН СССР, с 1947 также… …   Большая биографическая энциклопедия

• Пашаев, Ариф Мир-Джалал оглы — Ариф Мир Джалал оглы Пашаев Arif Mir Cəlal oglu Paşayev Дата рождения: 15 февраля 1934(1934 02 15) (78 лет) Место рождения: Баку Страна …   Википедия

• Поверхностные акустические волны в пьезоэлектриках — Генерация ПАВ с помощью встречно гребенчатого преобразователя. Справа приёмные дорожки снимают сигнал, при этом происходит обратное преобразование механической энергии в переменный электрический ток, через нагрузочный резистор. Поверхностные… …   Википедия

• элемент — 02.01.14 элемент (знак символа или символ) [element <symbol character or symbol>]: Отдельный штрих или пробел в символе штрихового кода либо одиночная многоугольная или круглая ячейка в матричном символе, формирующие знак символа в… …   Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации

• ГОСТ Р МЭК 60204-1-2007: Безопасность машин. Электрооборудование машин и механизмов. Часть 1. Общие требования — Терминология ГОСТ Р МЭК 60204 1 2007: Безопасность машин. Электрооборудование машин и механизмов. Часть 1. Общие требования оригинал документа: TN систем питания Испытания по методу 1 в соответствии с 18.2.2 могут быть проведены для каждой цепи… …   Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации

• Сканирующий атомно-силовой микроскоп — Атомно силовой микроскоп Атомно силовой микроскоп (АСМ, англ. AFM atomic force microscope)  сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения. Используется для определения рельефа поверхности с разрешением от дес …   Википедия

• КОНДУКТОМЕТРИЯ — (от англ, conductivity электропроводность и греч. metreo измеряю), совокупность электро хим. методов анализа, основанных на измерении электропроводности х жидких электролитов, к рая пропорциональна их концентрации. Достоинства К.: высокая… …   Химическая энциклопедия

• Шероховатость поверхности — Шероховатость поверхности  совокупность неровностей поверхности с относительно малыми шагами на базовой длине. Измеряется в микрометрах (мкм). Шероховатость относится к микрогеометрии твёрдого тела и определяет его важнейшие эксплуатационные …   Википедия

• Электрическая разведка — Электрическая разведка, или электроразведка, является одним из основных разделов разведочной геофизики – науки, относящейся к циклу наук о Земле и занимающейся изучением геологического строения земной коры и глубинных зон нашей планеты. Методы… …   Википедия

• Электромагнитная разведка — Электрическая разведка, или электроразведка, является одним из основных разделов разведочной геофизики – науки, относящейся к циклу наук о Земле и занимающейся изучением геологического строения земной коры и глубинных зон нашей планеты. Методы… …   Википедия